摘要: X射线荧光光谱法, 在稀有、稀土及其他有色金属的分析测试中, 越来越得到广泛的应用, 与化学法比较, 该法具有工效高、劳动条件好等优点。使用仪器为日本理学3080EX射线荧光光谱仪, X射线管系侧窗铑靶, 配有内存448K的计算机及可装24个样品的进样台, 工作参数予先进入, 可自动扣除干扰打印出分析结果。